Свойства и характеристики SiC

Благодаря своим уникальным физическим и электронным свойствам карбид кремния используют для создания высокоэффективных, высокотемпературных, радиационностойких, а также высокочастотных электронных приборов. В таблице приводится сравнение основных электронных свойств политипов SiC (4H-SiC и 6H-SiC) с кремниевыми (Si) и арсенидгаллиевыми (GaAs) полупроводниковыми материалами.

Наименование 4H-SiC 6H-SiC GaAs Si
Ширина запрещенной энергетической зоны, эВ 3,26 3,03 1,43 1,12
Критическая напряженность электрического поля, МВ/см 2,2 2,4 0,3 0,25
Теплопроводность, Вт/см*К 3,0...3,8 3,0...3,8 0,5 1,5
Скорость объемного заряда электронов, см/с*107 2,0 2,0 1,0 1,0

Основные преимущества SiC полупроводниковых материалов в сравнении с Si и GaAs:

  • Напряженность электрического поля 4Н-SiC при возникновении лавинного пробоя более чем на порядок превышает соответствующие показатели у Si и GaAs. Это приводит к значительному снижению удельного сопротивления в открытом состоянии Ron.
  • Малое удельное сопротивление в открытом состоянии, в сочетании с высокой плотностью тока и теплопроводностью, позволяет использовать очень маленькие по размерам кристаллы для силовых приборов.
  • Высокая теплопроводность SiC снижает тепловое сопротивление кристалла.
  • Электронные свойства приборов на основе SiC очень стабильны во времени и слабо зависят от температуры, что обеспечивает высокую надежность изделий.
  • Карбид кремния чрезвычайно устойчив к жесткой радиации, воздействие которой не приводит к деградации электронных свойств кристалла.
  • Высокая предельная рабочая температура кристалла (более 6000С) позволяет создавать высоконадежные приборы для жестких условий эксплуатации и специальных применений.

Информация для заказа

Информация предоставляется по запросу >>>