Параметры эпитаксии на SiC подложках

Материалы Cree для высококачественных электронных приборов

Компания Cree остается лидером в разработке и исследованиях инновационных материалов. Cree специализируется на производстве материалов для силовой, СВЧ электроники и специальных оптоэлектронных приборов, которые необходимы для устройств с высокой эффективностью.

Компания Cree использует проверенную и надежную технику для исследования материалов

Компания Cree использует самые современные аналитические и технологические методы контроля, что всегда гарантирует высокое качество продукции. Cree предоставляет все данные о качестве эпитаксиальных слоев и подложек. Сертификат, который включает в себя техническую информацию об эпитаксиальных слоях и подложке, соответствующий спецификации материалов Cree, обязательно включается в отгрузочные документы.

Основные технические характеристики включают в себя:

• Атомно-силовую микроскопию
• Электронную микроскопию поверхности
• Электродисперсную спектроскопию
• Пропускание в УФ/видимом диапазоне
• Точечное исследование сопротивления бесконтактным методом
• Измерение вольт-фарадных характеристик с помощью ртутного зонда
• Измерение фотолюминесценции при переменной температуре
• Измерение эффекта  Холла при переменной температуре
• Рентгеновские методы диагностики высокого разрешения:
  • Структура подложки в обратном пространстве
  • Кривые качания
  • Рефлектометрия